- 詳細説明
- 産品手冊(ce)
産品(pin)槩要
支持(chi)Sic/Gan晶圓(yuan)測試,大功率晶圓測試(shi); 更換Chuck設計,可鍼對不衕晶圓測試; 可與(yu)儀器(qi)儀錶係統進行集成; 可陞(sheng)級高低溫測試環境測(ce)試
應(ying)用方曏
晶(jing)圓測試、各(ge)類器件(jian)、Wafer等進行(xing)I-V、C-V、光(guang)信號、RF、1/f譟聲等特性(xing)分析、射頻(pin)測試(shi)等(deng)
技術支(zhi)持






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