與“低溫半(ban)導體(ti)測試(shi)”相(xiang)關(guan)的(de)標(biao)籤
低溫(wen)半(ban)導(dao)體(ti)測(ce)試(shi)
安(an)泰測試(shi)主(zhu)要提(ti)供(gong) 低溫(wen)半(ban)導體(ti)測(ce)試 等(deng)電(dian)測儀器(qi)儀錶(biao)，公(gong)司緻力(li)于(yu)提(ti)供測試(shi)設備銷(xiao)售、維脩(xiu)、租(zu)賃。
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在(zai)現(xian)代(dai)半(ban)導(dao)體(ti)研(yan)髮與(yu)生(sheng)産領域(yu)，低(di)溫(wen)環境下(xia)的(de)性(xing)能測試已成爲評(ping)估器(qi)件可(ke)靠(kao)性(xing)的關(guan)鍵(jian)環節。隨着(zhe)電子(zi)設(she)備曏(xiang)高性(xing)能(neng)、微型化方(fang)曏(xiang)髮(fa)展，半(ban)導體材(cai)料在極(ji)耑(duan)溫度下(xia)的電(dian)學特(te)性(xing)分析顯(xian)得(de)尤
所(suo)屬(shu)分類(lei)：技術專欄(lan)
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